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J-GLOBAL ID：200902086335091012   整理番号：88A0011662

アトムプローブと走査型トンネル顕微鏡による導電性セラミックスの極微視的研究

Ultra-microscopic investigation of conducting ceramics using the atom-probe and scanning tunneling electron microscope.

著者 (4件)： 西川治 (東京工大 大学院 総合理工学研究科) ,  富取正彦 (東京工大 大学院 総合理工学研究科) ,  長井政春 (東京工大 大学院 総合理工学研究科) ,  山下洋 (東京工大 大学院 総合理工学研究科)
資料名： 日本金属学会シンポジウム講演予稿・一般講演概要  (日本金属学会会報まてりあ臨時増刊)
巻： 101st  ページ： 90  発行年： 1987年10月 
JST資料番号： Y0242A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： チタン酸バリウムのアトムプローブ分析で検出されたイオンを検出...

シソーラス用語： チタン酸バリウム ,...
準シソーラス用語： STM

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分類 (3件)： 固体の表面構造一般  (BK15010E) ,  顕微鏡法  (BK01040E) ,  セラミック・磁器の性質  (YC03030G)

タイトルに関連する用語 (5件)： アトムプローブ ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  導電性セラミックス ,  極 ,  研究