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J-GLOBAL ID：200902115383731660   整理番号：94A0534915

針上試料先端の半導体膜の研究 表面の電子状態について

Study of Semiconductive Overlayers on Tips: Surface Electronic States.

著者 (3件)： 芦野慎 (金沢工大 工) ,  富取正彦 (東京工大) ,  西川治 (金沢工大 工)
資料名： 日本物理学会講演概要集(年会)  (日本物理学会年会予稿集)
巻： 49th  号： 2  ページ： 500  発行年： 1994年03月 
JST資料番号： S0671A  ISSN： 1342-8349  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (5件)： 針 ,  試料 ,  半導体膜 ,  研究 ,  電子状態