文献
J-GLOBAL ID：200902131010170515 整理番号：93A0256466
走査トンネル顕微鏡・原子間力顕微鏡
Scanning Tunneling Microscope Atomic Force Microscope.
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著者 (1件)：
升田博之
升田博之 について
名寄せID(JGPN) 200901100509064400 ですべてを検索
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(
金材技研
)
金材技研 について
名寄せID(JGON) 202151000162215853 ですべてを検索
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資料名：
材料と環境 (Corrosion Engineering of Japan)
材料と環境 について
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巻：
42
号：
2
ページ：
99-106
発行年：
1993年02月
JST資料番号：
F0006A
ISSN：
0917-0480
CODEN：
ZAKAEP
資料種別：
逐次刊行物 (A)
記事区分：
解説
発行国：
日本 (JPN)
言語：
日本語 (JA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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走査トンネル顕微鏡及び原子間力顕微鏡の原理と機能を解説した。...
シソーラス用語：
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走査型トンネル顕微鏡
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分類 (1件)：
分類
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顕微鏡法
(BK01040E)
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引用文献 (33件)：
1) 大森隆, 酒巻健司, 藤島明: 防食技術, 39, 564 (1990).
2) G. Binnig, H. Rohrer, Ch. Gerber & E. Weibel: Phys. Rev, Lett., 50, 120 (1983).
3) R. J. Hamers, R. M. Tromp & J. E. Demuth: Surface Sci., 181, 346 (1987).
4) Ph. Avouris & R. Wolkow: Phys. Rev. B, 39, 5091 (1989).
5) P. Bedrossian, D. M. Chen, K. Mortensen & J. A. Golovchenko: Nature, [342] 258 (1989).
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タイトルに関連する用語 (2件)：
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