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文献
J-GLOBAL ID:200902131010879158   整理番号:97A0205168

自動検査装置を用いたVLSI用の走査設計型検査技術

Scan design oriented test technique for VLSI’s using ATE.
著者 (3件):
資料名:
巻: 1996  ページ: 453-460  発行年: 1996年 
JST資料番号: E0211B  ISSN: 1089-3539  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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既存のLSIテスタを用いて走査型素子内部の欠陥の所在を迅速簡...
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
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分類 (2件):
分類
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固体デバイス計測・試験・信頼性  ,  集積回路一般 
タイトルに関連する用語 (5件):
タイトルに関連する用語
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