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文献J-GLOBAL ID:200902131037069905整理番号:97A0191253

Analysis of experimental current oscillations in MOS structures using a semi-empirical tunneling model.

半経験的トンネルモデルを使用した,MOS構造における実験的電流振動の解析

著者:MIRANDA E(Univ. Buenos Aires, Buenos Aires, ARG)、FAIGON A(Univ. Buenos Aires, Buenos Aires, ARG)、CAMPABADAL F(Campus Univ. Aut<span style=text-decoration:overline>o ́</span>noma de Barcelona, Bellaterra, ESP)
資料名:Solid-State Electron 巻:41 号:1 ページ:67-73
発行年:1997年01月
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