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文献
J-GLOBAL ID:200902131055251273   整理番号:02A0568262

産業用X線CT技術の進展 高密度実装半導体および材料試験複合装置による応用

著者 (5件):
資料名:
巻:号:ページ: 127-131  発行年: 2001年10月 
JST資料番号: L4590A  ISSN: 1346-4930  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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分類 (2件):
分類
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電話  ,  材料試験一般 
引用文献 (6件):
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