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J-GLOBAL ID：200902140456979724   整理番号：97A0975453

ソフトエラー免除のための逆行井戸とエピタクシー層を持ったダイオードにおける電荷担体蓄積の抑制

Suppression of charge carrier collection in diode with retrograde well and epitaxial layers for soft-error immunity.

著者 (8件)： KISHIMOTO T (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  TAKAI M (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  OHNO Y (Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN) ,  NISHIMURA T (Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN) ,  INUISHI M (Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN) ,  KINOMURA A (AIST, Osaka, JPN) ,  HORINO Y (AIST, Osaka, JPN) ,  FUJII K (AIST, Osaka, JPN)
資料名： Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms  (Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)
巻： 130  号： 1/4  ページ： 524-527  発行年： 1997年07月 
JST資料番号： H0899A  ISSN： 0168-583X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 担体蓄積抑制はソフトエラー軽減に対する解決法の1つである。D...

シソーラス用語： ソフトエラー ,...
準シソーラス用語： 担体

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分類 (2件)： 半導体の放射線による構造と物性の変化  (BK16123E) ,  ダイオード  (NC03050R)

タイトルに関連する用語 (6件)： ソフトエラー ,  井戸 ,  エピタクシー層 ,  ダイオード ,  電荷担体 ,  蓄積