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J-GLOBAL ID：200902151030405420   整理番号：94A0195917

高分解能2結晶型蛍光X線装置による酸化物薄膜の構造解析

Structural analysis of oxide thin films using a high resolution double crystal X-ray fluorescence spectrometer.

著者 (3件)： 升田裕久 (九大 大学院 総合理工学研究科) ,  武部博倫 (九大 大学院 総合理工学研究科) ,  森永健次 (九大 大学院 総合理工学研究科)
資料名： X線分析討論会講演要旨集  (X線分析討論会講演予稿集)
巻： 29th  ページ： 41-42  発行年： 1993年 
JST資料番号： S0881A  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (5件)： 高分解能 ,  結晶型 ,  蛍光X線 ,  酸化物薄膜 ,  構造解析