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J-GLOBAL ID：200902165027125175   整理番号：94A0491663

市販全反射蛍光X線分析装置による微量定量分析と検出限界

Trace Determination using Commercially Available TXRF Analyzer and its Detection Limit.

著者 (4件)： 薬師寺健次 (昭和電工シリコン) ,  大川真司 (昭和電工シリコン) ,  吉永敦 (昭和電工) ,  原田仁平 (名古屋大 工)
資料名： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Spring Meeting. Japan Society of Applied Physics and Related Societies)
巻： 41st  号： Pt 2  ページ： 705  発行年： 1994年03月 
JST資料番号： Y0054A  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (3件)： 全反射蛍光X線分析 ,  定量分析 ,  検出限界