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文献J-GLOBAL ID:200902165036049538整理番号:95A0517493

Characterization of low-temperature AlxGa1-xAs lattice properties using high resolution x-ray diffraction.

高分解能X線回折を用いた低温AlxGa1-xAsの格子特性の評価

著者:VERMA A K(Univ. California, California)、SMITH J S(Univ. California, California)、FUJIOKA H(Univ. California, California)・・・
資料名:Journal of Applied Physics 巻:77 号:9 ページ:4452-4454
発行年:1995年05月01日
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