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文献J-GLOBAL ID:200902165038349156整理番号:98A0991196

Identification of individual and aligned microdefects in bulk vertical Bridgman- and liquid encapsulated Czochralski-grown GaAs.

バルクの縦型Bridgman及び液体封入Czochralski成長GaAs中の個々の微小欠陥とそろった微小欠陥の同定

著者:WEYHER J L(Res. Centre Juelich(IFF‐KFA), Juelich, DEU)、SCHOBER T(Res. Centre Juelich(IFF‐KFA), Juelich, DEU)、SONNENBERG K(Res. Centre Juelich(IFF‐KFA), Juelich, DEU)・・・
資料名:Mater Sci Eng B 巻:B55 号:1/2 ページ:79-85
発行年:1998年08月14日
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