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J-GLOBAL ID:200902165075269804   整理番号:02A0348292

高電力絶縁ゲート・バイポーラトランジスタ(IGBT)における熱効果に対する三次元TLMシミュレーション法

A Three-Dimensional TLM Simulation Method for Thermal Effect in High Power Insulated Gate Bipolar Transistors.
著者 (3件):
資料名:
巻: 18th  ページ: 99-104  発行年: 2002年 
JST資料番号: T0978A  ISSN: 1065-2221  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
トランジスタ  ,  熱工学一般 

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