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文献J-GLOBAL ID:200902165083571986整理番号:95A0067824

P‐N接合の経時劣化現象

Phenomenon of Time Dependent Degradation of P-N Junction.

著者:三橋順一(三菱電機 北伊丹製作所)、渡部元(三菱電機 ULSI開研)、小守純子(三菱電機 ULSI開研)
資料名:電子情報通信学会技術研究報告 巻:94 号:352(R94 37-44) ページ:43-48
発行年:1994年11月18日
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