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文献J-GLOBAL ID:200902165090960912整理番号:02A0325335

Energy-filtered electron diffraction and high-resolution electron microscopy on short-range ordered structure in GaAs0.5Sb0.5.

GaAs0.5Sb0.5の短距離規則構造のエネルギーフィルタ電子回折及び高分解能電子顕微鏡観察

著者:SHINDO D(Tohoku Univ., Sendai, JPN)、IKEMATSU Y(Nippon Steel Corp., Futtsu, JPN)、LEE C‐W(Tohoku Univ., Sendai, JPN)・・・
資料名:J Electron Microsc 巻:51 号:1 ページ:29-34
発行年:2002年
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