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文献J-GLOBAL ID:200902165099845504整理番号:99A0116063

Testing of a read-out device processing electronics for IR linear and focal-plane arrays.

IR線形および焦点面配列のための読出しデバイス加工エレクトロニクスの試験

著者:SIZOV F F(Inst. Physics of Semiconductors, Ukrainian Acad. Sci., Kiev, UKR)、DERKACH YU P(Inst. Microdevices, Kiev, UKR)、KONONENKO YU G(Inst. Microdevices, Kiev, UKR)・・・
資料名:Proc SPIE 巻:3436 号:Pt.2 ページ:942-948
発行年:1998年
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