文献

J-GLOBAL ID：200902165099845504   整理番号：99A0116063

IR線形および焦点面配列のための読出しデバイス加工エレクトロニクスの試験

Testing of a read-out device processing electronics for IR linear and focal-plane arrays.

著者 (4件)： SIZOV F F (Inst. Physics of Semiconductors, Ukrainian Acad. Sci., Kiev, UKR) ,  DERKACH YU P (Inst. Microdevices, Kiev, UKR) ,  KONONENKO YU G (Inst. Microdevices, Kiev, UKR) ,  REVA V P (Inst. Microdevices, Kiev, UKR)
資料名： Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)
巻： 3436  号： Pt.2  ページ： 942-948  発行年： 1998年 
JST資料番号： D0943A  ISSN： 0277-786X  CODEN： PSISDG  資料種別： 会議録 (C)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (6件)： Ir ,  線形 ,  焦点面 ,  読出し ,  エレクトロニクス ,  試験