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文献J-GLOBAL ID:200902165102796110整理番号:98A0735442

Damage threshold dependence on electron-phonon coupling in Au and Ni films.

Au及びNi膜の損傷しきい値の電子‐フォノン結合への依存性

著者:GUEDDE J(Freie Univ. Berlin, Berlin, DEU)、HOHLFELD J(Freie Univ. Berlin, Berlin, DEU)、MUELLER J G(Freie Univ. Berlin, Berlin, DEU)・・・
資料名:Appl Surf Sci 巻:127/129 ページ:40-45
発行年:1998年05月
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