Au及びNi膜の損傷しきい値の電子-フォノン結合への依存性

文献

J-GLOBAL ID：200902165102796110 整理番号：98A0735442

Damage threshold dependence on electron-phonon coupling in Au and Ni films.

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資料名：
巻： 127/129 ページ： 40-45 発行年： 1998年05月
JST資料番号： B0707B ISSN： 0169-4332 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：オランダ (NLD) 言語：英語 (EN)

20~1500nm厚さのAu膜及び10~100nm厚さのNi...

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レーザ照射・損傷 , ポーラロン,電子-フォノン相互作用

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