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J-GLOBAL ID：200902165107441922   整理番号：99A0628822

CuリッチCuGaSe₂薄膜のミクロ構造

Microstructure of Cu-rich CuGaSe₂ Thin Films.

著者 (6件)： NADENAU V (Univ. Stuttgart, Stuttgart, DEU) ,  SCHOCK H W (Univ. Stuttgart, Stuttgart, DEU) ,  KREJCI M (Swiss Federal Inst. Technol., Zuerich, CHE) ,  HAUG F-J (Swiss Federal Inst. Technol., Zuerich, CHE) ,  TIWARI A N (Swiss Federal Inst. Technol., Zuerich, CHE) ,  ZOGG H (Swiss Federal Inst. Technol., Zuerich, CHE)
資料名： Diffusion and Defect Data Part B. Solid State Phenomena  (Diffusion and Defect Data Part B. Solid State Phenomena)
巻： 67/68  ページ： 397-401  発行年： 1999年 
JST資料番号： T0583A  ISSN： 1012-0394  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： スイス (CHE)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (3件)： Cu ,  薄膜 ,  ミクロ構造