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J-GLOBAL ID：200902165192041490   整理番号：01A0508838

二次イオン質量分析による異なるカソード過電圧下のLaMnO₃皮膜/イットリア安定化ジルコニア界面における酸素の移動

Oxygen Transport at the LaMnO₃ Film/Yttria-Stabilized Zirconia Interface under Different Cathodic Overpotentials by Secondary Ion Mass Spectrometry.

著者 (5件)： HORITA T (National Inst. Materials and Chemical Res., Ibaraki, JPN) ,  YAMAJI K (National Inst. Materials and Chemical Res., Ibaraki, JPN) ,  SAKAI N (National Inst. Materials and Chemical Res., Ibaraki, JPN) ,  YOKOKAWA H (National Inst. Materials and Chemical Res., Ibaraki, JPN) ,  KATO T (National Inst. Materials and Chemical Res., Ibaraki, JPN)
資料名： Journal of the Electrochemical Society  (Journal of the Electrochemical Society)
巻： 148  号： 5  ページ： J25-J30  発行年： 2001年05月 
JST資料番号： C0285A  ISSN： 1945-7111  CODEN： JESOAN  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 異なるカソード過電圧下の酸素移動をLaMnO_3<...

シソーラス用語： *ランタン化合物 ,...
準シソーラス用語： YSZ【セラミック】

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分類 (2件)： 固体中の拡散一般  (BL06021L) ,  燃料電池  (YB04040V)

タイトルに関連する用語 (7件)： 二次イオン質量分析 ,  カソード ,  過電圧 ,  皮膜 ,  イットリア安定化ジルコニア ,  界面 ,  酸素