文献
J-GLOBAL ID：200902165213382579   整理番号：95A0991707

Demonstration of a focused ion-beam cross-sectioning technique for ultrastructural examination of resin-dentin interfaces.

著者 (5件)：
VAN MEERBEEK B

VAN MEERBEEK B について

(Univ. Texas Health Sci. Center at San Antonio, Texas, USA)

Univ. Texas Health Sci. Center at San Antonio, Texas, USA について

, 
CONN L J JR

CONN L J JR について

(Univ. Texas Health Sci. Center at San Antonio, Texas, USA)

Univ. Texas Health Sci. Center at San Antonio, Texas, USA について

, 
DUKE E S

DUKE E S について

(Univ. Texas Health Sci. Center at San Antonio, Texas, USA)

Univ. Texas Health Sci. Center at San Antonio, Texas, USA について

, 
SCHRAUB D

SCHRAUB D について

(Sony Microelectronics, Texas, USA)

Sony Microelectronics, Texas, USA について

, 
GHAFGHAICHI F

GHAFGHAICHI F について

(Accurel Systems, Texas, USA)

Accurel Systems, Texas, USA について


資料名：
Dental Materials  (Dental Materials)

Dental Materials について


巻： 11  号： 2  ページ： 87-92  発行年： 1995年03月 
JST資料番号： D0009C  ISSN： 0109-5641  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

前のページに戻る

TOP

BOTTOM