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J-GLOBAL ID：200902170199476607   整理番号：95A0225247

針状試料先端の半導体膜の研究 III

Study of Semiconductive Overlayers on Tips.

著者 (5件)： 芦野慎 (金沢工大 工) ,  田村宗聖 (金沢工大 工) ,  松沢尚平 (金沢工大 工) ,  富取正彦 (北陸先端科学技術大学院大) ,  西川治 (金沢工大 工)
資料名： 日本物理学会講演概要集(分科会)  (日本物理学会分科会講演予稿集)
巻： 1994  号： Autumn Pt 2  ページ： 436  発行年： 1994年09月 
JST資料番号： S0872B  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (4件)： 針状 ,  試料 ,  半導体膜 ,  研究