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J-GLOBAL ID：200902170638794033   整理番号：98A0662548

Self-assembly液晶配向膜の吸着過程の全反射減衰法による評価

Evaluation of Adsorption Processes of Self-assembled Films for Liquid Crystal Aligning Layers Using the Attenuated Total Reflection Method.

著者 (7件)： 山形滋徳 (新潟大) ,  馬場暁 (新潟大) ,  古川智博 (新潟大) ,  新保一成 (新潟大) ,  加藤景三 (新潟大) ,  金子双男 (新潟大) ,  若松孝 (茨城工高専)
資料名： 電気学会化学センサシステム研究会資料  (電気学会研究会資料)
巻： CS-98  号： 16-27  ページ： 15-20  発行年： 1998年06月26日 
JST資料番号： L2895A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 簡便,安価で多様な機能性薄膜の作製が可能なSelf-asse...

シソーラス用語： *液晶 ,...
準シソーラス用語： 液晶配向膜 ,...

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分類 (2件)： 液晶一般  (BK03010L) ,  高分子の物性一般  (CG02001Z)

タイトルに関連する用語 (4件)： 液晶配向膜 ,  吸着過程 ,  全反射減衰法 ,  評価