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J-GLOBAL ID：200902172944733776   整理番号：93A0617725

SDC用試作シリコンストリップ検出器のγ線損傷実験

Radiation Damage Test of Prototype Double-Sided Silicon-Microstrip-Sensor for SDS by γ rays.

著者 (9件)： 岩田洋世 (広島大 理) ,  赤城卓 (東北大 理) ,  海野義信 (高エネルギー物理研) ,  小林茂治 (佐賀大 理工) ,  醍醐元正 (和歌山県医大) ,  高島隆一 (京都教大 教育) ,  田村詔生 (岡山大 理) ,  樋口正人 (東北学院大 工) ,  宮田等 (新潟大 理)
資料名： 日本物理学会講演概要集(年会)  (日本物理学会年会予稿集)
巻： 48th  号： 1  ページ： 38  発行年： 1993年03月 
JST資料番号： S0671A  ISSN： 1342-8349  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (8件)： SDC ,  試作 ,  シリコン ,  ストリップ ,  検出器 ,  γ線 ,  損傷 ,  実験