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J-GLOBAL ID：200902179449474769   整理番号：95A0225232

電界放射探針評価型STM/STSによる表面分析

Surface Analysis by a STM/STS with a Tip-evaluation Mechanism Utilizing Field Emission.

著者 (3件)： 菅田慶一 (東京工大 大学院 総合理工学研究科) ,  富取正彦 (北陸先端科学技術大学院大) ,  高柳邦夫 (東京工大 大学院 総合理工学研究科)
資料名： 日本物理学会講演概要集(分科会)  (日本物理学会分科会講演予稿集)
巻： 1994  号： Autumn Pt 2  ページ： 408  発行年： 1994年09月 
JST資料番号： S0872B  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (5件)： 探針 ,  評価 ,  STM ,  STS ,  表面分析