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J-GLOBAL ID：200902212375752114   整理番号：06A0311160

サブピクセル画像相関の適用による走査電子顕微鏡におけるマイクロスケール試験片用引張試験装置

TENSILE TEST APPARATUS FOR MICRO-SCALE SPECIMENS ON SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING SUB-PIXEL DIGITAL IMAGE CORRELATION
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著者 (2件)：
PRADHAN Sailesh

PRADHAN Sailesh について

(Southern Illinois Univ., Illinois)

Southern Illinois Univ., Illinois について

, 
CHU T. C.

CHU T. C. について

(Southern Illinois Univ., Illinois)

Southern Illinois Univ., Illinois について


資料名：
ASME. DSC (American Society of Mechanical Engineers. Dynamic Systems and Control)  (ASME. DSC (American Society of Mechanical Engineers. Dynamic Systems and Control))

ASME. DSC (American Society of Mechanical Engineers. Dynamic Systems and Control) について


巻： 74-2  ページ： 1769-1772  発行年： 2005年 
JST資料番号： D0832B  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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引張試験は常に均一応力と歪場の存在による別の逆方法以上に選定...
シソーラス用語：
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*走査電子顕微鏡

走査電子顕微鏡 について

,...
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分類 (2件)：
分類
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材料試験 
(HB02020U)

材料試験 について

,  顕微鏡法 
(BK01040E)

顕微鏡法 について

タイトルに関連する用語 (6件)：
タイトルに関連する用語
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サブピクセル

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, 
画像相関

画像相関 について

, 
走査電子顕微鏡

走査電子顕微鏡 について

, 
マイクロスケール

マイクロスケール について

, 
試験片

試験片 について

, 
引張試験装置

引張試験装置 について


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