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J-GLOBAL ID：200902212377629808   整理番号：08A0565382

キャビラリーZピンチ放電によって生じるNe様Ar軟X線レーザの発散の測定

Measurement of Divergence of Ne-Like Ar Soft X-ray Laser Generated by Capillary Z-Pinch Discharge

著者 (9件)： HAYASHI Yasushi (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  GHOMI Hamid (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  ZHAO Yongpeng (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  CHENG Yuanli (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  SAKAI Yusuke (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  WATANABE Masato (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  OKINO Akitoshi (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  HORIOKA Kazuhiko (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  HOTTA Eiki (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 47  号： 2 Issue 1  ページ： 977-979  発行年： 2008年02月25日 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： キャビラリーZピンチ放電によって生じる軟X線(SXR)レーザの発散を測定する方法を提案した。この方法では,素子の外側からビーム開口位置を調整してビームサイズを測定することができ,バックグラウンド放出からSXRレーザを分離するため入力信号をゲートする必要がない。この方法を我々のNe様Ar SXRレーザ測定に適用できることを実証した。ビームサイズは6から7.1mmの領域,発散は4.16から4.93mradの範囲と分った。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： Zピンチ ,  アルゴン ,  ネオン ,  軟X線 ,  *X線レーザ ,  発散 ,  開口
準シソーラス用語： X線ビーム

分類 (1件)： その他のレーザ  (BD04090H)

引用文献 (7件)：

• D. Attwood: Soft X-rays and Extreme Ultraviolet Radiation (Cambridge University Press, Cambridge, U. K., 1999).
• J. J. Rocca, V. Shlyaptsev, F. G. Tomasel, O. D. Cortazar, D. Hartshorn, and J. L. A. Chilla: Phys. Rev. Lett.73(1994)2192.
• J. J. Rocca, M. C. Marconi, J. L. A. Chilla, D. P. Clark, F. G. Tomasel, and V. N. Shlyaptsev: IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron.1(1995)945.
• G. Niimi, Y. Hayashi, A. Okino, M. Watanabe, and E. Hotta: J. Plasma Fusion Res.77(2001)1239 [in Japanese].
• Y. Hayashi, H. Taniguchi, H. Ghomi, P. Chalise, N. Sakamoto, M. Watanabe, A. Okino, M. Nakajima, K. Horioka, and E. Hotta: Jpn. J. Appl. Phys.43(2003)5564.

タイトルに関連する用語 (6件)： Zピンチ ,  放電 ,  Ne ,  Ar ,  軟X線レーザ ,  発散