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J-GLOBAL ID：200902212391576822   整理番号：09A0371300

HoBa₂Cu₃O_y超伝導薄膜材料の蛍光X線分析とICP-OES分析による定量値の比較

著者 (2件)： 坂本冬樹 (東北大 金属材料研) ,  芦野哲也 (東北大 金属材料研)
資料名： 東北大学金属材料研究所テクニカルセンター技術研究報告  (Technical Research Report of Technical Services Center in IMR)
号： 23  ページ： 31-34  発行年： 2009年03月 
JST資料番号： Z0563A  ISSN： 1883-1915  CODEN： TSGKDQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： SrTiO₃基板上にHoBa₂Cu₃O_y薄膜を蒸着作製した試料について蛍光X線分析と酸分解-ICP発光分光分析法による分析を行い,Ho,Ba,Cu,Yの定量値を比較した。その結果,薄膜が2mg/cm²程度付着している試料では付着量・組成とも両分析による結果が一致した。一方,付着量の少ない試料では,両分析法による付着量の差が大きかったが,組成は比較的近い値が得られた。この付着量の差は,感度不足,試料中の偏析,基板によるスペクトル干渉などによると考えられる。(著者抄録)

シソーラス用語： 超伝導 ,  *超伝導薄膜 ,  ホルミウム化合物 ,  バリウム化合物 ,  蛍光X線分析 ,  *ICP分析 ,  蒸着 ,  偏析 ,  基板 ,  チタン酸ストロンチウム ,  銅化合物 ,  イットリウム化合物
準シソーラス用語： *ICP発光分光分析

分類 (2件)： 無機物質中の元素の物理分析  (CC03022H) ,  酸化物系超伝導体の物性  (BM04023I)

タイトルに関連する用語 (4件)： 超伝導薄膜 ,  蛍光X線分析 ,  ICP-OES分析 ,  定量