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J-GLOBAL ID：200902212401155707   整理番号：04A0534831

超小型SOI導波路の側壁粗さにより誘起される伝搬損失へのサイズの影響

Size Influence on the Propagation Loss Induced by Sidewall Roughness in Ultrasmall SOI Waveguides

著者 (5件)： GRILLOT F (Univ. Paris-Sud, Orsay, FRA) ,  VIVIEN L (Univ. Paris-Sud, Orsay, FRA) ,  LAVAL S (Univ. Paris-Sud, Orsay, FRA) ,  PASCAL D (Univ. Paris-Sud, Orsay, FRA) ,  CASSAN E (Univ. Paris-Sud, Orsay, FRA)
資料名： IEEE Photonics Technology Letters  (IEEE Photonics Technology Letters)
巻： 16  号： 7  ページ： 1661-1663  発行年： 2004年07月 
JST資料番号： T0721A  ISSN： 1041-1135  CODEN： IPTLEL  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高電磁場閉込めSOI光導波路は,強い散乱効果の原因となる側壁...

シソーラス用語： *光導波路 ,...

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分類 (1件)： 光導波路,光ファイバ,繊維光学  (BD06030H)

タイトルに関連する用語 (7件)： SOI ,  導波路 ,  側壁 ,  粗さ ,  誘起 ,  伝搬損失 ,  サイズ