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J-GLOBAL ID：200902212431594039   整理番号：04A0065500

直列入力アクセスによる埋込み同期順序回路のための拘束テスト生成

Constrained Test Generation for Embedded Synchronous Sequential Circuits With Serial-Input Access
著者 (1件)：
POMERANZ I

POMERANZ I について

(Purdue Univ., IN, USA)

Purdue Univ., IN, USA について


資料名：
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems  (IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems について


巻： 23  号： 1  ページ： 164-172  発行年： 2004年01月 
JST資料番号： B0142C  ISSN： 0278-0070  CODEN： ITCSDI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
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抄録/ポイント
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スキャンにより個々の回路の入力にアクセスするような,大規模設...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*順序回路

順序回路 について

,...
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分類 (1件)：
分類
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集積回路一般 
(NC03161C)

集積回路一般 について

タイトルに関連する用語 (6件)：
タイトルに関連する用語
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アクセス

アクセス について

, 
埋込み

埋込み について

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順序回路

順序回路 について

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拘束

拘束 について

, 
テスト生成

テスト生成 について


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