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J-GLOBAL ID:200902212466062749   整理番号:08A0378396

流動層反応器中の粒子へのTiO2フィルムの原子層堆積

Atomic layer deposition of TiO2 films on particles in a fluidized bed reactor
著者 (7件):
資料名:
巻: 183  号:ページ: 356-363  発行年: 2008年04月21日 
JST資料番号: B0730A  ISSN: 0032-5910  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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流動層反応器中で粒子基材へ制御された厚さのTiO2薄膜を原子層堆積(ALD)した。光学物性を向上するために,550nmのSiO2の球および65nmのZnOの超微粒子上に薄膜を堆積した。超微粒子を,磁力-連結された撹はん機を援用して,流動化した。有機金属化合物チタンテトライソプロポシドを先駆体として,種々の基材温度でTiO2を堆積するための酸化剤としてH2OおよびH2O2を用いた。これらの,TiO2薄膜をHRTEM,ICP-AES,XPS,UV吸収で確認した。粒径が所与の密度の薄膜の堆積によって増大された後に,比表面積は適宜に変えられ,1次粒子は塗工プロセスによって,凝集されなかったことが分った。インサイト質量分析によって,各ALD反応サイクルの反応をモニターした。粉体のバルク量は過度に先駆体を浪費しないで,TiO2薄膜によって良好に機能化された。Copyright 2008 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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