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J-GLOBAL ID：200902212505134280   整理番号：07A0324471

SSTAの精度評価用測度の提案

Proposal of Metrics for SSTA Accuracy Evaluation

著者 (7件)： KOBAYASHI Hiroyuki (Nihon Synopsys Co., Ltd., Tokyo, JPN) ,  ONO Nobuto (Jedat Inc., Tokyo, JPN) ,  SATO Takashi (Tokyo Inst. of Technol., Yokohama-shi, JPN) ,  IWAI Jiro (Mathematical System Inc., Tokyo, JPN) ,  NAKASHIMA Hidenari (NEC Electronics Corp., Kawasaki-shi, JPN) ,  OKUMURA Takaaki (Fujitsu VLSI Ltd., Kasugai-shi, JPN) ,  HASHIMOTO Masanori (Osaka Univ., Suita-shi, JPN)
資料名： IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)  (IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E90-A  号： 4  ページ： 808-814  発行年： 2007年04月01日 
JST資料番号： F0699C  ISSN： 0916-8508  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 最近の縮小プロセス技術の進歩に伴い,プロセスパラメータの変動...

シソーラス用語： 半導体プロセス ,...
準シソーラス用語： DFM ,...

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分類 (1件)： 集積回路一般  (NC03161C)

引用文献 (5件)：

• TSUKIYAMA, S. Statiscal timing analysis : Abstarct. Proc. 18th Circuits and System Karuizawa Workshop, April 2005. 2005, 533-538
• CHANG, H. Statistical timing analysis under spatial correlations. IEEE Trans. Comput.-Aided Des. Integr. Circuits Syst. 2005, 24, 9, 1467-1482
• CHANG, H. Parameterized block-based statistical timing analysis with non-gaussian parameters, nonliner delay functions. Proc. DAC 2005. 2005, 71-76
• AGARWAL, A. Statistical timing analysis using bounds. Proc., DATE, 2003. 2003, 62-67
• CHANG, H. Statistical timing analysis considering spatial correlation using a single PERT-like traversal. Proc. ICCAD, 2003. 2003, 621-625

タイトルに関連する用語 (4件)： SSTA ,  精度評価 ,  測度 ,  提案