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J-GLOBAL ID：200902219524158160   整理番号：04A0868485

産業技術総合研究所におけるアウトカム事例調査(2)-ライフサイクルアセスメント(LCA)--地質図幅--シリコン半導体-平成16年度

Case Studies on Outcomes Produced by National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (2)-Life Cycle Assessment (LCA)--Geological Map of Japan--Silicon Semiconductor-

著者 (3件)： 大井健太 (産業技術総合研) ,  関根重幸 (産業技術総合研) ,  水野光一 (産業技術総合研)
資料名： 産業技術総合研究所におけるアウトカム事例調査2 平成16年度  (Case Studies on Outcomes Produced by National Institute of Advanced Industrial Science and Technology 2)
ページ： 91P  発行年： 2004年 
JST資料番号： N20042238  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： シリコン半導体(先端産業技術の開発),ライフサイクルアセスメ...

シソーラス用語： 基礎研究 ,...
準シソーラス用語： アウトカム

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分類 (1件)： 研究開発  (AA03000V)

タイトルに関連する用語 (9件)： 産業 ,  総合 ,  研究所 ,  アウトカム ,  事例調査 ,  ライフサイクルアセスメント ,  LCA ,  地質図 ,  シリコン