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J-GLOBAL ID：200902232391456844   整理番号：08A0154417

先進無気孔型SiCの破壊面における微細観察およびマッピング分析

著者 (5件)： 松田伸也 (愛媛大 大学院) ,  大藤弘明 (愛媛大) ,  松下正史 (愛媛大) ,  高橋学 (愛媛大) ,  岡部永年 (愛媛大)
資料名： 日本材料学会四国支部総会学術講演会講演論文集
巻： 8th-6th  ページ： 31-32  発行年： 2007年 
JST資料番号： L5884A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *炭化ケイ素 ,...
準シソーラス用語： 電界放出型走査電子顕微鏡

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分類 (1件)： セラミック・磁器の性質  (YC03030G)

タイトルに関連する用語 (6件)： 気孔 ,  SiC ,  破壊面 ,  観察 ,  マッピング ,  分析