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J-GLOBAL ID:200902235225144639   整理番号:09A0202622

in-situ UHV TEMで研究した,金属表面の酸化物アイランドの還元

Reduction of Oxide Islands on Metal Surfaces Investigated by In-situ UHV TEM
著者 (3件):
資料名:
巻: 2008 Vol.2  ページ: 1129-1145  発行年: 2008年 
JST資料番号: E0697C  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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広く知られている,金属酸化物の還元反応で機構として,以下の2つがある。1)核発生と成長の機構(酸化物層の表面の所々が還元されて還元核が発生し,これが成長合体して,一つの還元層を形成する。2)界面機構(酸化物の表面が一様に還元され,これが厚くなる。しかし,in-situ環境透過電子顕微鏡(UHV TEM)で,高温真空下でのCu(100)表面のCu2Oのナノアイランドの還元を観察したところ,これらとは異なる機構が観察された。すなわち,Cu2Oの周囲に,Cu相が成長し,これがCu2Oを取り囲み,表面クレーターが形成された。クレーターの縁の成長の制御機構を論じた。
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分類 (1件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
塩基,金属酸化物 

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