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J-GLOBAL ID：200902272357835900   整理番号：08A0950649

バイアス変調法による高速フォトダイオードの評価

著者 (7件)： 谷口浩二 (大阪大 大学院基礎工学研究科) ,  藤本吉秀 (大阪大 大学院基礎工学研究科) ,  都甲浩芳 (NTT NTTマイクロシステムインテグレーション研) ,  味戸克裕 (NTT NTTマイクロシステムインテグレーション研) ,  久々津直哉 (NTT NTTマイクロシステムインテグレーション研) ,  永妻忠夫 (大阪大 大学院基礎工学研究科) ,  永妻忠夫 (NTT NTTマイクロシステムインテグレーション研)
資料名： 電子情報通信学会大会講演論文集  (電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集)
巻： 2008  号： エレクトロニクスソサイエティ 1  ページ： 235  発行年： 2008年09月02日 
JST資料番号： G0508A  ISSN： 1349-1369  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 100GHzを超える動作周波数のフォトダイオード(PD)の評価には電気光学サンプリング(EOS)が用いられるが,従来は光チョッパを用いた変調法が一般的であった。光チョッパを用いた変調法では,変調周波数が100Hz~10kHzと限られている他に,変調されたトリガー光がプローブ光に混入するという問題があった。それによる雑音を防ぐためにPDから測定ポイントを離していたが,信号伝送によって波形が劣化していた。今回,我々は,トリガー光ではなくPDのバイアスを変調することにより,高いS/NとPD直近での測定が可能となった。(著者抄録)

シソーラス用語： *フォトダイオード ,  *評価 ,  バイアス ,  *周波数特性
準シソーラス用語： 変調 ,  周波数応答特性

分類 (2件)： 光電デバイス一般  (NC03081P) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： バイアス ,  変調 ,  フォトダイオード ,  評価