特許
J-GLOBAL ID:200903034132800399

被検物質の測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 木森 有平 ,  浅野 典子
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-124527
公開番号(公開出願番号):特開2009-276064
出願日: 2008年05月12日
公開日(公表日): 2009年11月26日
要約:
【課題】 検出感度を飛躍的に向上することが可能な被検物質の測定方法を提供する。【解決手段】 試料溶液中の被検物質4の量に応じた量の触媒金属10を作用電極2の表面に析出させた後、触媒金属10の触媒作用による還元電流を測定し、測定された還元電流値に基づいて被検物質4の有無又は濃度を調べる。被検物質4の量に応じた量の触媒金属10を作用電極2の表面に析出させるには、例えば標識金属微粒子7で標識された被検物質4を作用電極2の表面に捕捉し、標識金属微粒子7を電気化学的に酸化して溶解した後、電気化学的に還元することにより作用電極2の表面に析出させ、析出した析出標識金属8の表面に触媒金属10を析出させる。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
金属微粒子を標識物質として用いる被検物質の測定方法であって、 試料溶液中の被検物質に対応した量の触媒金属を作用電極近傍に局在化させ、前記触媒金属の触媒作用による電流を測定し、測定された電流値に基づいて被検物質の有無又は濃度を調べることを特徴とする被検物質の測定方法。
IPC (3件):
G01N 27/327 ,  G01N 33/543 ,  G01N 27/416
FI (4件):
G01N27/30 357 ,  G01N33/543 541Z ,  G01N27/46 336G ,  G01N27/46 338
引用特許:
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (4件)
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引用文献:
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