特許

J-GLOBAL ID：200903065027434371

電極反応特性試験装置及び電極反応特性試験方法

発明者： 長谷川 正樹 ,  朝岡 賢彦 ,  末永 智一 ,  珠玖 仁 ,  安川 智之
出願人/特許権者： 株式会社豊田中央研究所
代理人 (2件)： 畠山 文夫 ,  小林 かおる
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-136280
公開番号（公開出願番号）：特開2008-292224
出願日： 2007年05月23日
公開日（公表日）： 2008年12月04日
要約：

【課題】基板表面に形成された多種類の電極触媒の触媒活性を一括して、かつ、効率よく評価することが可能な電極反応特性試験装置及び電極反応特性試験方法を提供すること。【解決手段】表面に複数の電極材料が形成された電極基板の電位を制御することにより、前記電極材料表面における電極反応を制御する電位制御手段と、前記電極反応に関与する原料物質又は生成物質の少なくとも一方の局所的な濃度を電気化学反応電流値として検出する探針電極と、前記探針電極を三次元的に位置制御する位置制御手段と、前記原料物質又は前記生成物質の局所的な濃度以外の原因に起因する前記探針電極の前記電気化学反応電流値の経時変化の影響を排除する排除手段とを備えた電極反応特性試験装置、及び、これを用いた電極反応特性試験方法。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

表面に複数の電極材料が形成された電極基板の電位を制御することにより、前記電極材料表面における電極反応を制御する電位制御手段と、 前記電極反応に関与する原料物質又は生成物質の少なくとも一方の局所的な濃度を電気化学反応電流値として検出する探針電極と、 前記探針電極を三次元的に位置制御する位置制御手段と、 前記原料物質又は前記生成物質の局所的な濃度以外の原因に起因する前記探針電極の前記電気化学反応電流値の経時変化の影響を排除する排除手段と を備えた電極反応特性試験装置。

IPC (2件)：

G01N 27/416 ,  G01N 27/26

FI (2件)：

G01N27/46 301M ,  G01N27/26 371A

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 哺乳動物胚の無侵襲的品質評価方法及びその装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-312882   出願人：科学技術振興事業団
• 電気化学的多検体分析方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-272822   出願人：科学技術振興事業団, 北斗電工株式会社