特許
J-GLOBAL ID:200903079797669777

アイソトポマー質量分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 高橋 明夫 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-039456
公開番号(公開出願番号):特開2000-243344
出願日: 1999年02月18日
公開日(公表日): 2000年09月08日
要約:
【要約】【課題】 アイソトポマー分析を簡便に行うこと。【解決手段】 電場、磁場よりなる二重収束型高分解能磁場型質量分析計を用いて、イオンの加速電圧の一部を走査することにより、アイソトポマー分析を行う。
請求項(抜粋):
イオンビームの通路に偏向磁場およびトロイダル電場を作用させて立体二次二重収束を行わせて分析を行う質量分析装置であって、試料をイオン化するイオン化室、該イオン化室に試料を供給する手段、前記イオンビームの通路にイオンを放出するための加速電極及び該加速電極にイオンの加速電圧を与える加速電源、イオン検出器およびこれらの制御及び検出結果の処理を行う総合制御装置を備えるとともに、該加速電圧が検出対象のイオンの質量に応じて異なったものとされることを特徴とするアイソトポマー質量分析装置。
IPC (2件):
H01J 49/32 ,  G01N 27/62
FI (2件):
H01J 49/32 ,  G01N 27/62 H
Fターム (3件):
5C038HH02 ,  5C038HH12 ,  5C038HH26
引用特許:
審査官引用 (5件)
  • 特開昭58-019848
  • 特開昭64-084556
  • 微少量試料分析方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平7-226556   出願人:新日本製鐵株式会社
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