幸谷智

コウヤサトシ | Satoshi Kouya

所属機関・部署：
職名：講師
ホームページURL (1件)： http://www.wsl.c.dendai.ac.jp/
論文 (7件)：

Evaluation of Is Oxide Layer Anodized by Extremely Diluted HF Solution. 2022
IEEE802.11s メッシュネットワークにおける TCP CUBIC と TCP BBR のパフォーマンス. コミュニケーションジャーナル. 2020
ドプラレーダを用いた回転ボールの角速度ベクトル測定. 2019
エンジニアのためのコミュニケーション能力および表現能力を高める実験教育の試み. 第80回応用物理学会秋季学術講演会. 2019
Haruki Kobayashi, Yuya Oaku, Kotaro Hoshina, Satoshi Kouya, Taiichi Saito. A Simple and Inexpensive tool for Deauthentication Attacks Detection Using M5Stack and IFTTT. International Workshop on Security. 2019

MISC (10件)：

フェーズドアレーと無線LANセキュリティ. 工学情報. 2022
ウイルス影響下における効果的な工学実験の試み2. 第68回応用物理学会春季学術講演会. 2021
佐々木仁,幸谷智,吉野隆幸,本橋光也. ウイルス影響下における効果的な工学実験の試み. 第81回応用物理学会秋季学術講演会. 2020
佐々木仁,幸谷智,吉野隆幸,本橋光也. エンジニアのためのコミュニケーション能力および表現能力を高める実験教育の試み2. 第67回応用物理学会春季学術講演会. 2020. 14a-PA1-7
幸谷智, 齊藤泰一. 三点制御フェーズドアレーにおけるヌル生成に適したアンテナ間隔の検討. 電子情報通信学会2020年総合大会. 2020

書籍 (2件)：

講演・口頭発表等 (21件)：

Evaluation of Is Oxide Layer Anodized by Extremely Diluted HF Solution
(7th Korea-Japan International Symposium on Materials Science and Technology 2022)
ウイルス影響下における効果的な工学実験の試み2
(第68回応用物理学会春季学術講演会 2021)
ウイルス影響下における効果的な工学実験の試み
(第81回応用物理学会秋季学術講演会 2020)
エンジニアのためのコミュニケーション能力および表現能力を高める実験教育の試み2
(第67回応用物理学会春季学術講演会 2020)
Performance of TCP CUBIC and TCP BBR on IEEE802.11s Mesh Network
(12th International Conference on Computer Science and Information Technology 2019)

Works (4件)：

経歴 (2件)：

受賞 (4件)：

2022/11 - The Materials Research Society of Korea Best Presentation Awards Evaluation of Si Oxide Layer Anodized by Extremely Diluted HF Solution
2015/11 - 日本材料科学会若手奨励賞二重励起プラズマを用いたメゾスコピックSiへの表面処理効果
2015/11 - 日本材料科学会若手奨励賞二重励起プラズマを用いたメゾスコピックSiへの表面処理効果
2015/06 - 日本材料科学会若手奨励賞高周波グロー放電プラズマの位相制御とメゾスコピックSiへの処理効果

所属学会 (3件)：

電子情報通信学会 , 日本シミュレーション学会 , IEEE

※　J-GLOBALの研究者情報は、researchmapの登録情報に基づき表示しています。登録・更新については、こちらをご覧ください。

幸谷 智