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J-GLOBAL ID：200902076505753672   整理番号：84A0006622

走査型電子顕微鏡およびエネルギー分散型X線マイクロアナライザーの応用 I 形態観察および定性分析への適用例

著者 (2件)： 竹内孝 (函館工高専) ,  福島純 (函館工高専)
資料名： 函館工業高等専門学校紀要  (Research Reports of National Institute of Technology, Hakodate National College)
号： 17  ページ： 51-59  発行年： 1983年03月15日 
JST資料番号： S0946A  ISSN： 0286-5491  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型X線マイクロアナライザーの...

シソーラス用語： 走査電子顕微鏡 ,...

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分類 (2件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  その他の物理分析  (CC03014E)

タイトルに関連する用語 (6件)： 走査型電子顕微鏡 ,  エネルギー分散 ,  X線マイクロアナライザー ,  応用 ,  形態観察 ,  定性分析