J-GLOBAL ID:200902076564273897整理番号:82A0425779
Characteristics of backscattered electron detectors for scanning electron microscopy.
走査電子顕微鏡用の後方散乱電子検出器の特性
著者:NEWBURY D E(National Bureau of Standards, Washington, DC)
資料名:Microbeam Anal 巻:16th ページ:1-8
発行年:1981年
資料名:Microbeam Anal 巻:16th ページ:1-8
発行年:1981年