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文献
J-GLOBAL ID:200902076564273897   整理番号:82A0425779

走査電子顕微鏡用の後方散乱電子検出器の特性

Characteristics of backscattered electron detectors for scanning electron microscopy.
著者 (1件):
資料名:
巻: 16th  ページ: 1-8  発行年: 1981年 
JST資料番号: E0776B  ISSN: 0278-1727  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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分類 (2件):
分類
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電子顕微鏡,イオン顕微鏡  ,  放射線検出・検出器 
タイトルに関連する用語 (3件):
タイトルに関連する用語
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