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J-GLOBAL ID：200902076680733269   整理番号：90A0526948

多谷狭ギャップ半導体における縮退キャリアのAuger寿命の計算

Calculation of the Auger lifetime of degenerate carriers in the many-valleynarrow gap semiconductors.
著者 (1件)：
DMITRIEV A V

DMITRIEV A V について

(Moscow State Univ., Moscow, SUN)

Moscow State Univ., Moscow, SUN について


資料名：
Solid State Communications  (Solid State Communications)

Solid State Communications について


巻： 74  号： 7  ページ： 577-581  発行年： 1990年05月 
JST資料番号： H0499A  ISSN： 0038-1098  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)
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PbTe,Pb1-xSn<sub>x<...
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化合物半導体

化合物半導体 について

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分類 (1件)：
分類
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半導体結晶の電子構造 
(BM02060N)

半導体結晶の電子構造 について

タイトルに関連する用語 (6件)：
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谷

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ギャップ

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縮退

縮退 について

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キャリア

キャリア について

, 
寿命

寿命 について

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計算

計算 について


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