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J-GLOBAL ID：200902095995312045   整理番号：89A0071168

500MHzVLSIテストシステム“ULTIMATE”のハードウエア

Key technolgies for 500-MHz VLSI test system “Ultimate”.

著者 (8件)： 須藤常太 (NTT LSI研) ,  吉井彰 (NTT LSI研) ,  玉真昭男 (NTT LSI研) ,  鳴海直明 (NTT LSI研) ,  坂川義満 (NTT LSI研) ,  尾辻泰一 (NTT LSI研) ,  鈴木正雄 (NTT LSI研) ,  赤沢幸雄 (NTT LSI研)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 88  号： 228  ページ： 55-62(VLD88-62)  発行年： 1988年10月20日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 大規模化,高速化する将来のVLSIに対応する次世代テスタを開...

シソーラス用語： 超LSI ,...

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分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (2件)： テスト ,  ハードウエア