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J-GLOBAL ID：200902140658047700   整理番号：01A0048188

内部目視検査(IVI)基準とGaAsと関連部品の封止前検査の改良

Refinement of Internal Visual Inspection (IVI) Criteria and Pre-cap Inspection Procedure for GaAs and Related Components.

著者 (4件)： STORM H (Bosch Telecom GmbH, Backnang, DEU) ,  CROISILLE G (United Monolithic Semiconductors S.A.S., Orsay, FRA) ,  KIRSCH M (Infineon Technol. AG, Munich, DEU) ,  MARCHAND L (ESTEC, Noordwijk, NLD)
資料名： ESA SP (European Space Agency)  (ESA SP (European Space Agency))
号： SP-439  ページ： 137-142  発行年： 2000年06月 
JST資料番号： E0016B  ISSN： 0379-6566  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： フランス (FRA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 宇宙応用に使用するマイクロ波デバイスのIVI規格を,ESA契...

シソーラス用語： *マイクロ波回路 ,...
準シソーラス用語： ESA【欧州】

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分類 (2件)： 飛しょう体の設計・構造  (QK04010H) ,  混成集積回路  (NC03163K)

タイトルに関連する用語 (4件)： 目視検査 ,  GaAs ,  封止 ,  検査