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J-GLOBAL ID：200902223530698280   整理番号：07A0774905

表面X線回折により決定した多層グラフェン/4H-SiC(000-1)系の構造特性

Structural properties of the multilayer graphene/4H-SiC(000<span style=text-decoration:overline>1</span>) system as determined by surface x-ray diffraction

著者 (10件)： HASH J. (Georgia Inst. of Technol., Georgia, USA) ,  FENG R. (Georgia Inst. of Technol., Georgia, USA) ,  MILLAN-OTOYA J. E. (Georgia Inst. of Technol., Georgia, USA) ,  LI X. (Georgia Inst. of Technol., Georgia, USA) ,  SPRINKLE M. (Georgia Inst. of Technol., Georgia, USA) ,  FIRST P. N. (Georgia Inst. of Technol., Georgia, USA) ,  DE HEER W. A. (Georgia Inst. of Technol., Georgia, USA) ,  CONRAD E. H. (Georgia Inst. of Technol., Georgia, USA) ,  BERGER C. (Georgia Inst. of Technol., Georgia, USA) ,  BERGER C. (Inst. Neel, Grenoble, FRA)
資料名： Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics  (Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics)
巻： 75  号： 21  ページ： 214109.1-214109.8  発行年： 2007年06月 
JST資料番号： D0746A  ISSN： 1098-0121  CODEN： PRBMDO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 多層グラフェン/4H-SiC(000-1)系の表面X線反射法...

シソーラス用語： *炭化ケイ素 ,...
準シソーラス用語： 黒鉛

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分類 (1件)： その他の無機化合物の薄膜  (BK14060A)

タイトルに関連する用語 (5件)： 表面X線回折 ,  多層グラフェン ,  4H-SiC ,  系 ,  構造特性