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J-GLOBAL ID:200902228779522566   整理番号:03A0639667

In-plane X線回折および偏光NEXAFS分光法を用いた組織分子膜の構造評価

Structural Estimation of Organized Molecular Films by Using In-plane X-ray Diffraction and Polarized NEXAFS Spectroscopy
著者 (8件):
資料名:
巻: 83rd  号:ページ: 391  発行年: 2003年03月03日 
JST資料番号: S0493A  ISSN: 0285-7626  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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炭化水素鎖とフッ化炭素鎖を含む長鎖カルボン酸誘導体,更にはそ...
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分類 (1件):
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固-液界面 

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