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J-GLOBAL ID：200902228779522566   整理番号：03A0639667

In-plane X線回折および偏光NEXAFS分光法を用いた組織分子膜の構造評価

Structural Estimation of Organized Molecular Films by Using In-plane X-ray Diffraction and Polarized NEXAFS Spectroscopy

著者 (8件)： 藤森厚裕 (埼玉大 理) ,  杉田喜子 (埼玉大 理) ,  中原弘雄 (埼玉大 理) ,  伊藤英輔 (理研 フロンティア) ,  原正彦 (理研 フロンティア) ,  金井要 (名古屋大 大学院) ,  大内幸雄 (名古屋大 大学院) ,  関一彦 (名古屋大 大学院)
資料名： 日本化学会講演予稿集  (日本化学会春季年会講演予稿集)
巻： 83rd  号： 1  ページ： 391  発行年： 2003年03月03日 
JST資料番号： S0493A  ISSN： 0285-7626  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 炭化水素鎖とフッ化炭素鎖を含む長鎖カルボン酸誘導体,更にはそ...

シソーラス用語： *XANES ,...
準シソーラス用語： *LB膜 ,...

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分類 (1件)： 固-液界面  (CB12050B)

物質索引 (2件)： アラキジン酸 ,  ステアリン酸

タイトルに関連する用語 (7件)： X線回折 ,  偏光 ,  NEXAFS ,  分光法 ,  組織 ,  分子 ,  構造評価