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J-GLOBAL ID：200902285612157770   整理番号：04A0511876

a-SiC:H積層素子に関するオプトエレクトロニック キャラクタリゼーション

Optoelectronic characterization of a-SIC:H stacked devices
著者 (6件)：
LOURO P

LOURO P について

(ISEL, Lisbon, PRT)

ISEL, Lisbon, PRT について

, 
FANTONI A

FANTONI A について

(ISEL, Lisbon, PRT)

ISEL, Lisbon, PRT について

, 
FERNANDES M

FERNANDES M について

(ISEL, Lisbon, PRT)

ISEL, Lisbon, PRT について

, 
MACARICO A

MACARICO A について

(ISEL, Lisbon, PRT)

ISEL, Lisbon, PRT について

, 
SCHWARZ R

SCHWARZ R について

(ISEL, Lisbon, PRT)

ISEL, Lisbon, PRT について

, 
VIEIRA M

VIEIRA M について

(ISEL, Lisbon, PRT)

ISEL, Lisbon, PRT について


資料名：
Journal of Non-Crystalline Solids  (Journal of Non-Crystalline Solids)

Journal of Non-Crystalline Solids について


巻： 338/340  ページ： 345-348  発行年： 2004年06月15日 
JST資料番号： D0642A  ISSN： 0022-3093  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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非晶質シリコン合金材料に基づいた二重pin素子について,大面...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*非晶質半導体

非晶質半導体 について

,...
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分類 (4件)：
分類
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半導体薄膜 
(BK14040E)

半導体薄膜 について

,  非晶質半導体の構造 
(BK04030O)

非晶質半導体の構造 について

,  測光と光検出器一般 
(BD07031F)

測光と光検出器一般 について

,  13-15族化合物を含まない半導体-半導体接合 
(BM03083P)

13-15族化合物を含まない半導体-半導体接合 について

タイトルに関連する用語 (2件)：
タイトルに関連する用語
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SiC

SiC について

, 
キャラクタリゼーション

キャラクタリゼーション について


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