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J-GLOBAL ID：201002278045658679   整理番号：10A0978268

複合サブナノFPGA/ASICデバッグにおけるATPG/スキャン故障不良解析の新規故障位置決定方法

Novel Fault Localization Approach For ATPG/Scan-Fault Failures in Complex Sub-Nano FPGA/ASIC Debugging

著者 (1件)： GOH L. L. (Altera Corp. (M) Sdn. Bhd., Penang, MYS)
資料名： Proceedings of the International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits  (Proceedings of the International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits)
巻： 17th  ページ： 58-61  発行年： 2010年 
JST資料番号： W1259A  ISSN： 1946-1542  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 自動テストパターン発生(ATPG)/スキャン診断が,デジタル回路テスト時にテストベクトルの発生に使用される主要方法またはツールの一つである。ATPG/スキャン故障の故障分離が,現在の先端ICの大きな課題になってきた。検討した事例研究に基づき,新規の故障位置決定方法を開発した。次に,FPGA/ASICデバッグ時の物理的不良解析(PFA)の成功率と結合することにより,ATPG診断の総合結果から役立つ数基準を確認した。この方法の採用は,特にウエハレベル解析でサブナノFPGA/ASICのATPG/スキャン故障に関係した高感度の欠陥を選別除去することができるため,PFAを改善し,歩留を向上することを実証した。

シソーラス用語： *故障点標定 ,  *FPGA ,  *デバッギング ,  *回路試験器 ,  ASIC ,  テストパターン ,  因子分析 ,  根本原因分析法
準シソーラス用語： ATPG

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (9件)： サブ ,  FPGA ,  ASIC ,  デバッグ ,  ATPG ,  スキャン ,  故障 ,  不良解析 ,  位置決定