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J-GLOBAL ID:201602233974124704   整理番号:16A0787292

InGaN/AlGaN/A1N/GaNヘテロ接合電界効果トランジスタの伝達特性における電流プラトーの観測【Powered by NICT】

Observation of a Current Plateau in the Transfer Characteristics of InGaN/AlGaN/A1N/GaN Heterojunction Field Effect Transistors
著者 (14件):
資料名:
巻: 32  号: 12  ページ: 127301-1-127301-4  発行年: 2015年 
JST資料番号: W1191A  ISSN: 0256-307X  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 英語 (EN)
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(InGaN)/AlGaN/AlN/GaNヘテロ接合電界効果トランジスタ(HFET)の直流伝達特性を提示した。V(GS)のドレイン電流プラトー(I(DS)=32.0mA/mm)をInGaN/AlGaN/AlN/GaN HFETの伝達特性に存在する+0.7Vto-0.6Visから。理論計算は,GaN/AlGaN/AlN/GaNヘテロ構造における二次元電子ガス(2DEG)と二次元正孔ガス(2DHG)の共存を示し,伝導チャネル中の2°から2DHGの遮蔽効果がこの電流プラトーを説明することができる。さらに,I(DS)-V(GS)走査繰り返しを行った場合の電流プラトーは時間依存性挙動を示した。得られた洞察は,GaN系超HFETの製作における設計のための指標を提供する。Data from the ScienceChina, LCAS.【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
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13-15族化合物を含まない半導体-半導体接合  ,  13-15族化合物を含む半導体-半導体接合 

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