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J-GLOBAL ID：201602259184127153   整理番号：16A0585116

多重イベント過渡現象のレイアウトベースモデル化と緩和【Powered by NICT】

Layout-Based Modeling and Mitigation of Multiple Event Transients

著者 (4件)： Ebrahimi Mojtaba (Karlsruhe Inst. of Technol., Karlsruhe, Germany) ,  Asadi Hossein (Sharif Univ. of Technol., Tehran, Iran) ,  Bishnoi Rajendra (Karlsruhe Inst. of Technol., Karlsruhe, Germany) ,  Tahoori Mehdi B. (Karlsruhe Inst. of Technol., Karlsruhe, Germany)
資料名： IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems  (IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻： 35  号： 3  ページ： 367-379  発行年： 2016年 
JST資料番号： B0142C  ISSN： 0278-0070  CODEN： ITCSDI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 放射線誘起多重事象過渡現象(METs)は,ナノスケールCMOS技術ノードにおけるシングルイベント過渡現象(SET)よりも頻繁になると期待される。本論文では,両SETおよびMET断層モデルを考慮した高速かつ正確なレイアウトベースソフトエラー率(SER)評価手法を提示した。隣接MET部位は論理レベルネットリストから抽出した既存の技術にもかかわらず,MET隣接細胞を得るために包括的なレイアウト解析を行った。実験結果は,ネットリストベース技術は,全体的なSERをかなり過小評価としてレイアウトベース法は,隣接する細胞の同定のための唯一の実行可能な解決策であることを明らかにした。さらに,最も脆弱な隣接細胞を同定し,局所調整則を用いたレイアウトの物理的距離を増加させることによって,著者らは,面積と性能ペナルティを課すことなく全SERをかなり低減することができた。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 高速度 ,  *過渡現象 ,  ペナルティ ,  *モデリング ,  ソフトエラー ,  放射線 ,  *多重化
準シソーラス用語： 過小評価 ,  評価方法 ,  ソフトエラー率 ,  断層モデル ,  SET【シングルイベント】 ,  CMOS技術 ,  ナノスケール , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： ソフトエラー ,  多重ビットアップセット(MBU) ,  多重事象過渡(MET) ,  信頼性

分類 (2件)： CAD,CAM  (JE10000A) ,  集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (4件)： 多重 ,  イベント ,  過渡現象 ,  緩和