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J-GLOBAL ID:201602264217098188   整理番号:16A0547395

レーザー-誘導ブレークダウン分光法を用いたYb-ドープファイバープリフォーム中でのイオンドーピングプロファイルの分析

Analysis of ion doping profiles in Yb-doped fiber preforms using laser-induced breakdown spectroscopy
著者 (10件):
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巻: 31  号:ページ: 492-496  発行年: 2016年02月 
JST資料番号: C0770C  ISSN: 0267-9477  CODEN: JASPE2  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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イオンドーピングプロファイルは,Yb-ドープファイバー中での最も重要な特性の一つであるが,しかし迅速,in situ,およびオンライン分析を実現させることは困難である。レーザー-誘導ブレークダウン分光法(LIBS)システムが装備され,Yb-ドープフィバープリフォーム中のイオンドーピングプロファイルが分析された。しかしながら,レーザー-誘導不規則クラッキングがプリフォーム表面で発生し,分析結果へ影響を及ぼすYbマップ中での異常値を発生させた。自己適応メディアンフィルター(SAMF)が導入されマップが改質された。SAMFによってアシストされたLIBSマッピングの結果は,階段状および中央ディップのドーピングプロファイルを明瞭に記述した。エネルギー分散X線分光法(EDS)およびX線蛍光(XRF)技術を用いて分析結果が妥当性検証された。この研究は,Yb-ドープファイバー中でのイオンドーピングプロファイルの分析のための迅速,in situ,およびオンライン手法を提供した。Copyright 2016 Royal Society of Chemistry All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST
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分類 (1件):
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無機物質中の元素の物理分析 

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